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Progettazione di sistemi elettronici integrati


Denominazione del corso: Progettazione di sistemi elettronici integrati
Corso di studi: I4E - Laurea magistrale in Ingegneria Elettronica
Quadrimestre/Semestre:
Anno:
Numero di moduli: 1
Crediti: 9
Ore: 90
Tipologia: B - Attività caratterizzanti
Struttura: monodisciplinare
Settore Scientifico Disciplinare: ING-INF/01 (Elettronica)

Docente: Andrea De Marcellis (30 ore). Titolo copertura: Aggregato (Ricercatore)

Docente: Giulio Giuseppe Marotta (60 ore). Titolo copertura: a contratto
Orario di ricevimento: Sempre disponibile. Fissare appuntamento via email: gmarotta@micron.com gmarotta1@katamail.com


Programma sintetico del corso:

Introduzione alla progettazione e realizzazione di sistemi digitali “full custom” - la realizzazione di porte e funzioni logiche a livello di transitor – dimensionamento in CMOS e relazioni tecnologiche – applicazione a memorie SRAM CMOS – classificazione di memorie e gestione della complessità nelle memorie in fase di sviluppo; Metodi e strumenti per la progettazione integrata “fullcustom” - Memorie NON-volatili, memorie flash con SLC e MLC: analisi funzionale, strutture blocchi e progetto di blocchi . Architetture delle UC interne - Progettazione inclusiva del testing – progettazione delle interfacce funzionali ad alta velocità. Testing di sistemi integrati.

Programma esteso del corso:

Link Programma completo (PDF)    (Aggiornato il 5-09-2017)

Introduzione alla progettazione e realizzazione di sistemi digitali “full custom” - la realizzazione di porte e funzioni logiche a livello di transitor – aspetti tecnologici, progettuali e di convenienza economica. Dimensionamento in CMOS e relazioni tecnologiche – applicazione a memorie SRAM CMOS – classificazione di memorie e gestione della complessità nelle memorie in fase di sviluppo; Metodi e strumenti per la progettazione integrata “fullcustom” - Memorie NON-volatili, memorie flash con SLC e MLC. Principi base delle celle flash – problematiche fisico concettuali per le strutture multilivello; analisi funzionale, strutture blocchi e progetto di blocchi . Architetture delle UC interne - Progettazione inclusiva del testing – progettazione delle interfacce funzionali ad alta velocità, esempi e standard ONFI. Testing di sistemi integrati con laboratorio.


Testi consigliati:

WESTE – HARRIS: CMOS VLSI Design: A Circuits and Systems Perspective, Addison Wesley 2010

Brewer J., Gill M. -Nonvolatile Memory Technologies with Emphasis on Flash:- IEEE Press 2008

Micheloni R. et altri Inside NAND Flash Memories Springer 2009

Appunti ed approfondimenti a cura dei Docenti

            
            
                         


Modalità d'esame:

Test con domande a risposte multiple ed aperte con successiva discussione sulle stesse.


Risultati di apprendimento previsti:

Completare il quadro culturale per la progettazione, realizzazione e testing di sistemi digitali complessi. fullcustom - incontro operativo con un team di ricerca e sviluppo progettuale di avanguardia.


Link Verifica la presenza di materiale didattico sul sito ELearning@AQ